產(chǎn)品詳情介紹
具有高速激光器，模擬傳輸（CATV）或拉曼放大器的光學(xué)系統(tǒng)需要很高的回波損耗才能實(shí)現(xiàn)最佳性能。此外，光學(xué)回波損耗測量可以用來證明安裝是仔細(xì)而準(zhǔn)確地完成的；例如，它們可以表明光連接器已經(jīng)過檢查并且干凈。超靈敏功率計與穩(wěn)定光源相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)高達(dá)70 dB的測量范圍。
傾斜的單模測試端口（APC）保證了高精度的回波損耗測量，而無需使用外部端接來進(jìn)行高達(dá)50 dB的回波損耗測量。
好處
第一次就可以更快，正確，及時地完成工作
使用可選的P5000i顯微鏡進(jìn)行自動的通過/失敗光纖檢查分析
緊湊，堅(jiān)固，防風(fēng)雨設(shè)計
應(yīng)用領(lǐng)域
光學(xué)回程測量
光功率的測量（絕對和相對）
光學(xué)插入損耗的測量
檢查光連接器（IBYC）
主要特點(diǎn)
電池供電的現(xiàn)場便攜式光學(xué)回波損耗計，功率計的測量波長范圍為1260至1650 nm（增量設(shè)置為1 nm），光源處有多個波長，回波損耗高達(dá)70 dB
用于FC，SC，ST和LC光連接器的可互換光適配器（Senko）
3.5英寸彩色觸摸屏，帶有手寫筆
功率和損耗通過/失敗分析的單獨(dú)閾值設(shè)置
帶有時間戳的光纖檢查和測試結(jié)果存儲
通過USB或以太網(wǎng)接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸和遠(yuǎn)程控制
自動Lambda和MultiLambda測試功能